田捷，男，汉族，1960年1月出生于安徽省芜湖市。中国科学院自动化研究所研究员。1982年于安徽师范大学数学系获学士学位，1987年于西北大学数学系获硕士学位，1993年于中国科学院自动化研究所获博士学位；1995年5月到1996年6月，于美国宾州大学作访问学者；1993年8月到1994年9月任中国科学院自动化研究所助理研究员，1994年10月到1997年8月任中国科学院自动化研究所副研究员，1997年9月至今任中国科学院自动化研究所研究员。田捷博士现为IEEE Fellow(2010年起)和IAMBE Fellow(2012年起)，并于2002年获得国家杰出青年科学基金资助（结题被评为优秀）。作为首席科学家，于2006年（结题被评为优秀）和2011年两次获得973项目资助。作为第一完成人，相继获得2003和2004年度国家科技进步二等奖以及2010年度国家技术发明二等奖。

田捷博士主要从事医学影像分析、针刺机理与生物特征识别方向的研究与应用工作。在分子影像成像理论算法和关键技术方面，提出了组织特异性成像理论模型，显著提高了成像的精度、深度和速度；在针刺机理方面，提出了针刺持续性效应假说，并通过提出的适合针刺自身特点的实验设计模型对假说进行了验证；以针刺持续性效应假说为切入点开展系列研究，为国际针刺机理研究争议的核心穴位特异性问题提供了初步解释；在指纹识别方面，提出了基于二元细节点结构指纹图像表达的多种有效的指纹识别方法，获得授权发明专利十余项，实现了技术转移和产业化。田捷博士近年来的突出贡献具体体现在如下三个方面：

1、提出了组织特异性的成像理论模型，并研发了多模态分子影像成像系统，显著提高了三维成像的精度、深度和速度：

在分子影像方向，取得了理论算法、关键技术、成像系统和生物医学应用的系统性创新研究成果。理论算法上，提出了组织特异性成像理论模型和相应的重建算法，作为通讯作者在国际权威期刊发表论文30余篇，并得到国际同行包括H. Dehghani（Opt. Express副主编）、B. W. Pogue（Opt. Lett.副主编）、C. A.Bouman（IEEE Trans. Image Process.前主编、IEEE Fellow、AIMBE Fellow、SPIE Fellow）等的积极评价，同时获得了授权发明专利20余项，其中1项为美国授权发明专利。关键技术上，研发了医学影像算法集成平台，得到了国内外同行的广泛下载与使用，目前累计下载量达25000余次，用户来自于70余个国家和地区，1400多家单位，并得到国际同行在Nature Communications等杂志上的积极评价。成像系统方面，研制了多模态分子影像成像系统，并获得了2010年度国家技术发明二等奖，同时实现了技术转移和产业化。生物医学应用方面，由生物医学领域科研单位协助，开展了系列化的肿瘤机理和药效评价实验，部分相关结果发表在Mol. Imaging、Mol. Imaging Biol.等国际主流杂志上。

2、提出了针刺持续性效应假说，并通过所提出的适合针刺自身特点的实验设计模型和数据处理方法对假说进行了验证；以针刺持续性效应假说为切入点开展了一系列研究工作，为国际针刺机理研究存在争议的穴位特异性问题提供了影像学证据：

在针刺机理方向，以针刺的基本特征以及临床表现为出发点，对前人的研究工作进行回顾和反思，提出了针刺持续性效应假说，并通过所提出的适合针刺自身特点的实验设计模型和数据处理方法对假说进行了验证；从针刺持续性效应为切入点，提出适合于针刺特点的非重复事件相关的实验设计方法以及功能连接度的分析方法，为针刺影像学研究提供了新思路；在此基础上，提出了针刺时变响应的概念，将针刺机理研究从空间一维定位拓展到时空二维网络分析层面；以针刺持续性效应为出发点，展开针刺穴位特异性问题的研究，分析了针刺刺激视觉相关穴位和非视觉相关穴位前后,引起的静息态功能连接模式的差异，为国际针刺机理研究争议的穴位特异性问题提供了初步的解释。在针刺持续性效应及相关研究方面，作为通讯作者已在Hum. Brain Mapp.、Mol. Pain等国际重要学术期刊发表论文30余篇，针刺穴位特异性研究成果被国际著名的Journal of Oncology杂志多次引用，对针刺治疗癌性疼痛的临床研究提供了客观的影像学证据，为推广针刺疗法做出了贡献; 2010年，国际著名的北美放射年会（RSNA）的会报报道了田捷研究团队的针刺穴位特异性研究成果,并获得了国际同行包括美国科学院院士N. Volkow和英国皇家科学院院士Y. Friston等人的积极评价。

3、提出了基于二元细节点结构指纹图像表达的多种有效指纹识别方法，实现了技术转移和产业化，并已在多家单位得到了应用：

在指纹识别方向，提出了基于二元细节点结构指纹图像表达的多种有效指纹识别方法，作为通讯作者在权威国际期刊发表论文20余篇，包括IEEE Trans. Pattern Anal. Mach. Intell.、IEEE Trans. Image Process.等主流学术期刊，得到了模式识别领域国际著名学者A. K. Jain (IEEE Trans. Pattern Anal. Mach. Intell.前主编、IEEE Fellow)和A. Amin (曾任两届国际模式识别学会IAPR主席)等人积极评价。获得授权发明专利十余项，实现了技术转移和产业化。